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    AFSEM小试牛刀——SEM中原位AFM定量表征光子学微结构表面粗糙度

    QUANTUM量子科学仪器贸易(?#26412;?#26377;限公司2018年9月19日 10:04 点击:328

    近期,老牌期刊< Sensors and Actuators A: Physical >刊载了C. Ranacher等人题为Mid-infrared absorption gas sensing using a silicon strip waveguide的文章。?#25628;?#31350;工作的目的是发展一种能够与?#36125;?#30789;基电子器件方便集成的新型气体探测器,探测器的核心部?#36136;?#26465;状硅基光波导,工作的机理是基于条状硅基波导在中红外波段的倏逝场传播特性会受到波导周围气氛的变化而发生改变这一现象。C. Ranacher等人通过有限元模拟以及时域有限差分方法,设计了合理的器件结构,并通过一系列微加工工艺获得了原型器件,最后从实验上验证了这种基于条状硅基光波导的器件可以探测到浓度低至5000 ppm的二氧化碳气体,在气体探测方面具有极高的可行性(如图1、图2)。

     


    图1:硅基条型光波导结构示意图


    图2:气体测试平台示意图


    参考文章:
    Mid-infrared absorption gas sensing using a silicon strip waveguide

    值得指出的是,对于光波导来说,结构表面的粗糙程度对结构的固有损耗有极大的影响,常需要结构的表面足够光滑。传统的SEM观测模式下,研?#31354;?#20204;可以获取样品形貌的图像信息,但很?#35759;?#22270;像信息进行量化,也就无法定量?#21592;?#19981;同样品的粗糙度或定量分析粗糙度对器件特性的影响。本文当中,为了能够准确、快捷、方便、定量化地对光波导探测器不同部分的粗糙度进行表征,C. Ranacher等人联系到了维也纳技术大学,利用该校电镜中心拥有的扫描电镜专用原位AFM探测系统AFSEM?(注:奥地利GETec Microscopy公司将扫描电镜专用原位AFM探测系统命名为AFSEM,并已注册专用商标AFSEM?),在SEM中选取了?#34892;?#36259;的样品部分并进行了原位AFM形貌轮廓定量化表征,相应的结果如图3所示,其中硅表面和氮化硅表面的粗糙度均方根分别为1.26 nm和1.17 nm。有了明确的量化结果,对于不同工艺结果的?#21592;?#20063;就有了量化的依据,从而可以作为参考,优化工艺;另一方面,对于考量由粗糙度引起的波导固有损耗问题,也有了量化的分析依据。


    图3.jpg

    图3:(a) Taper结构的SEM形貌图像;

    (b) Launchpad表面的衍射光栅结构的SEM形貌图像;

    (c) 原位AFM表征结果:左下图为氮化硅层的表面轮廓图像,右上图为硅基条状结构的表面轮廓图像;

    (d) 衍射光栅的AFM轮廓表征结果

    通过传统的光学显微镜、电子显微镜,研?#31354;?#20204;可以直观地获取样品的形貌图像信息。不过,随着对样品形貌信息的定量化表征需求及三维微纳结构轮廓信息表征的需求增多,能够与传统显微手段兼容并进行原位定量化轮廓形貌表征的设备就显得愈发重要。另一方面,随着聚焦电子束(FEB,focused electron beam)、聚焦离子束(FIB,focused ion beam)技术的发展,对样品进行微区定域加工的各类工艺被越来?#28966;?#27867;地应用于微纳米技术领域的相关研究当?#23567;?#36890;常,在FIB系统当中能够获得的样品微区物性信息非常有限,如果要对工艺处理之后的样品进行微区定量化的形貌表征以及力学、电学、磁学特性分析,往往需要将样品转移至其他的物性分析系统或者表征平台。?#27426;?#19981;少材料对空气中的氧气或水?#36136;?#20998;敏?#26657;?#24448;往短时间暴露在大气环境中,就会使样品的表面特性发生变化,从而无法获得样品经过FIB系统处理后的原位信息。此外,有不少学科,需要利用FIB对样品进行逐层减薄并配合AFM进行逐层的物性定量分析,在这种情况下需要反复地将样品放入FIB腔体或从FIB腔体中去除,而?#19968;?#38656;要对微区进行定标处理,非常麻?#24120;?#24182;且同样存在样品转移过程当中在大气环境中的沾污及氧化问题。有鉴于此,一种能够与SEM或FIB系统快速集成、并实现AFM原位观测的模块,就显得非常有必要。


    GETec Microscopy公司致力于研发集成于SEM、FIB系统的原位AFM探测系?#24120;?#24050;有超过十年的时间,并于2015年正式推出了扫描电镜专用原位AFM探测系统AFSEM?。AFSEM?基于自感应悬臂梁技术,因此不需要额外的激光器及四象限探测器,即可实现AFM的功能,从而能够方便地与市场上的各类光学显微镜、SEM、FIB设备集成,在各种狭小腔体中进行原位的AFM轮廓测试(图4、图5)。另一方面,通过选择悬臂梁顶端的不同功能型针尖(图6、图7),还可以在SEM腔体中,原位对微纳结构进行磁学、力学、电学特性观测,最大程度地满足研?#31354;?#20204;对各类样品微区特性的表征需求。对于联用系?#24120;?#30456;信很多使用者都有过不同系统安装、调试、匹配过程繁琐的经历,或是联用效果差强人意的经历。不过,对于AFSEMTM系?#24120;?#24744;完全不必有此方面的顾虑,通过文章下方的视频,您可以看到AFSEM?安装到SEM系统的过程十分简单,并且可以快速的?#19994;礁行?#36259;的样品区域并进行AFM的成像。


    图4.jpg


    图4:(左)自感应悬臂梁工作示意图;(右)AFSEMTM与SEM集成实图情况


    图5.jpg 

    图5:AFSEMTM在SEM中原位获取骨骼组织的定量化形貌信息

     

     图6.jpg

    图6:自感应悬臂梁与功能型针尖(1)

     

    图7.jpg 

    图7:自感应悬臂梁与功能型针尖(2)


    目前Quantum Design中国子公司已将GETec扫描电镜专用原位AFM探测系统AFSEM?引进中国市场。AFSEM技术与SEM技术的完美结合,使得人们对微观世界和纳?#36164;?#30028;新探索新发现成为可能。

    (来源: QUANTUM量子科学仪器贸易(?#26412;?#26377;限公司


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